測(cè)試功能

01. DHM 動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)量

02. CVM CV測(cè)量

03. LM 漏電流測(cè)量

04. FM 疲勞測(cè)試

05. DTS 介電溫譜測(cè)量

06. RT 電阻測(cè)量

07. PM 脈沖測(cè)量

08. PYM 熱釋電測(cè)量

09. BDM 擊穿測(cè)試

10. TSDC 熱刺激電流測(cè)量

11. ECM 電卡測(cè)試

12. POM 油浴極化

13. PZM 壓電測(cè)量(應(yīng)變測(cè)量）

14. CHM 靜態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)量

15. IM 印跡測(cè)量

16. RM 保持力測(cè)量

儀器配置

    Huace FE系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)是目前市場(chǎng)上的前沿設(shè)備，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍，在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV、10kV、20kV，Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線(xiàn)、脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試功能。內(nèi)置完整的專(zhuān)用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專(zhuān)用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或更高)、RAM (8G 或更大)、固態(tài)硬盤(pán)(250G 或更大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD 光驅(qū)、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專(zhuān)用測(cè)試軟件等。

產(chǎn)品參數(shù)

01. 內(nèi)置電壓 (可外接高壓放大器)：±10V （可外接不同型號(hào)放大器）

02. 可外接高壓放大器 （可外接20KV高壓放大器需配置高壓防護(hù)模塊）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV

03. ADC位數(shù)：18位

04. 電荷分辨率范圍：<10Fc——27.6mC

05. 面積分辨率范圍：<1μ2——>100cm2

06. 電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率：270KHz @10V

07. 測(cè)試頻率：0.03Hz

08. 脈沖寬度 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備) ：0.5us

09. 脈沖上升時(shí)間(5V) (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備) ：400ns

10. 脈沖寬度：1s

11. 脈沖間延遲時(shí)間：40ks

12. 內(nèi)部時(shí)鐘：25ns

13. 泄漏電流 (assuming current integration period = 20 seconds) ：<1pA

14. 小信號(hào)上限頻率范圍 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備) ：500KHz——1MHz

15. 輸出上升時(shí)間控制：103 scaling

16. 輸入電容：~60fF

17. 阻抗輸入：Yes

接口

01. USB 主機(jī)端口：通用串行總線(xiàn)插座 , 應(yīng)變測(cè)試接口 ; 可連接鼠標(biāo)、鍵盤(pán)、打印機(jī)或 USB 閃盤(pán)

02. USB (USBTMC) 接口端口：通用串行總線(xiàn)插座 , B類(lèi)配置 (4個(gè)直接插入式端口) ; 陰頭；可連接外部PC；兼容支持USB接口通信的USBTMC-USB488和USB 2.0.LA 測(cè)試和測(cè)量類(lèi) (TMC) 接口；符合IEEE 488.1和IEEE 488.2標(biāo)準(zhǔn)

03. LAN：10/100/1000 BaseT以太網(wǎng), 8引腳配置；支持在兩種數(shù)據(jù)速率間自動(dòng)選擇

04. 錄像輸出：15引腳迷你型D-Sub接口；陰頭；可驅(qū)動(dòng)VGA兼容監(jiān)測(cè)儀

應(yīng)用領(lǐng)域

應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域，?特別是電子材料電特性參數(shù)的測(cè)量，研究和測(cè)試各種材料的電性能。